El Método Rietveld es una técnica fundamental en el análisis cuantitativo y estructural de materiales cristalinos mediante la difracción de rayos X (XRD) o de neutrones. Desarrollado inicialmente por Hugo Rietveld en 1969 para interpretar patrones de difracción de neutrones, su aplicación se ha extendido al análisis de rayos X debido a su capacidad para extraer información detallada sobre las características estructurales y microestructurales de los materiales.
Este método se basa en un ajuste por mínimos cuadrados, donde se modela matemáticamente el patrón de difracción experimental a través de parámetros cristalográficos como las posiciones atómicas, factores de ocupación, parámetros de red y el ancho de los picos. El objetivo principal es minimizar la diferencia entre el patrón observado y el patrón calculado, permitiendo una caracterización precisa del material.
- Profesor: Julio Cesar Gonzalez Henao
- Profesor: Jeferson Fernando Piamba Jimenez